DIN 51390-2:1997
Ensayos de productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de silicona. Parte 2: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS).

Estándar No.

DIN 51390-2:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN 51390-2:1997

Alcance

El análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS) se utiliza para determinar el contenido de silicona de los productos derivados del petróleo.

DIN 51390-2:1997 Historia

• 1997 DIN 51390-2:1997 Ensayos de productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de silicona. Parte 2: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS).