JIS C 5943:1997
Métodos de medición de diodos láser utilizados para grabación y reproducción.

Estándar No.

JIS C 5943:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Estado

 2010-05

Remplazado por

JIS C 5943:2010

Ultima versión

JIS C 5943:2010

Alcance

Esta norma especifica el método de medición de láseres semiconductores para reproducción y grabación (excluidos los tipos con circuitos electrónicos incorporados; en adelante denominados láseres semiconductores) utilizados como fuentes de luz.

JIS C 5943:1997 Historia

• 2010 JIS C 5943:2010 Métodos de medición de diodos láser utilizados para grabación y reproducción.
• 1997 JIS C 5943:1997 Métodos de medición de diodos láser utilizados para grabación y reproducción.