JIS C 5945:1996
Métodos de prueba de módulos de diodos láser para transmisión de fibra óptica.

Estándar No.

JIS C 5945:1996

Fecha de publicación

1996

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Estado

Remplazado por

JIS C 5945:2005

Ultima versión

JIS C 5945:2005

JIS C 5945:1996 Historia

• 2005 JIS C 5945:2005 Métodos de medición de módulos de diodos láser para transmisión de fibra óptica.
• 1996 JIS C 5945:1996 Métodos de prueba de módulos de diodos láser para transmisión de fibra óptica.