JIS H 0615:1996
Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.

Estándar No.

JIS H 0615:1996

Fecha de publicación

1996

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Estado

Remplazado por

JIS H 0615 ERRATUM 1:2006

Ultima versión

JIS H 0615:2021

Alcance

Esta norma especifica el método para determinar la concentración de impurezas del silicio monocristalino y multicristalino mediante fotoluminiscencia. Los elementos de impureza mensurables son boro (B), aluminio (Al), fósforo (P) y arsénico (As), y el rango de concentración mensurable es de 1×1011 a 5×015 átomos/cm3 (0,002 a 100 ppba).

JIS H 0615:1996 Historia

• 2021 JIS H 0615:2021 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.
• 2006 JIS H 0615 ERRATUM 1:2006 ERRATA
• 1996 JIS H 0615:1996 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.