La intención de las pruebas descritas es establecer procedimientos de prueba estándar para detectores de semiconductores utilizados para la detección y espectroscopia de alta resolución de partículas cargadas. Es deseable mantener procedimientos de prueba estándar para que los medidores
IEC 60333:1993 Historia
1993IEC 60333:1993 Instrumentación nuclear; detectores de partículas cargadas de semiconductores; procedimientos de prueba