DIN 50439:1982
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del perfil de concentración de dopantes de un material semiconductor monocristalino mediante el método capacitancia-voltaje y contacto con mercurio

Estándar No.

DIN 50439:1982

Fecha de publicación

1982

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50439:1982

Alcance

Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del perfil de concentración de dopantes de un material semiconductor monocristalino mediante el método capacitancia-voltaje y contacto de mercurioEssais des matériaux pour la technologie semi

DIN 50439:1982 Historia

• 1982 DIN 50439:1982 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del perfil de concentración de dopantes de un material semiconductor monocristalino mediante el método capacitancia-voltaje y contacto con mercurio