JIS H 0604:1995
Medición de la vida útil de los portadores minoritarios en monocristales de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora

Estándar No.

JIS H 0604:1995

Fecha de publicación

1995

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS H 0604:1995

Alcance

Esta norma especifica un método para medir la vida útil de la reviscosidad del pulso (en lo sucesivo denominada "vida útil del pulso" o τB) de portadores minoritarios en un monocristal de silicio utilizando el método de desintegración fotoconductora utilizando un circuito de CC. El monocristal a medir debe tener una composición uniforme y una resistividad de 1Ω·cm o más.

JIS H 0604:1995 Historia

• 1995 JIS H 0604:1995 Medición de la vida útil de los portadores minoritarios en monocristales de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora