DIN 50443-1:1988
Pruebas de materiales para su uso en tecnología de semiconductores; Detección de defectos cristalinos y faltas de homogeneidad en monocristales de silicio mediante topografía de rayos X.
- Estándar No.
- DIN 50443-1:1988
- Fecha de publicación
- 1988
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Ultima versión
- DIN 50443-1:1988
- Alcance
- Esta norma determina los métodos para el reconocimiento de defectos y faltas de homogeneidad en monocristales semiconductores de silicio mediante topografía de rayos X.
DIN 50443-1:1988 Historia
- 1988 DIN 50443-1:1988 Pruebas de materiales para su uso en tecnología de semiconductores; Detección de defectos cristalinos y faltas de homogeneidad en monocristales de silicio mediante topografía de rayos X.
