DIN 50435:1988
Pruebas de materiales semiconductores; determinación de la variación de la resistividad radial de láminas de silicio o germanio mediante el método de las cuatro sondas/corriente continua

Estándar No.

DIN 50435:1988

Fecha de publicación

1988

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50435:1988

DIN 50435:1988 Historia

• 1988 DIN 50435:1988 Pruebas de materiales semiconductores; determinación de la variación de la resistividad radial de láminas de silicio o germanio mediante el método de las cuatro sondas/corriente continua