DIN 54377-2:1987
Inicio
DIN 54377-2:1987
Estándar No.
DIN 54377-2:1987
Fecha de publicación
1987
Organización
German Institute for Standardization
Estado
2009-09
Remplazado por
DIN 54377-2:2009
Ultima versión
DIN 54377-2:2009
Alcance
Esta norma especifica un método fotométrico para la determinación de SiO en todo tipo de pastas y papeles libres de carga.
DIN 54377-2:1987 Historia
2009
DIN 54377-2:2009
Ensayos de pasta y papel. Determinación del contenido de óxido de silicio (IV). Parte 2: Método fotométrico.
1987
DIN 54377-2:1987
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