IEC 60759:1983
Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Estándar No.

IEC 60759:1983

Fecha de publicación

1983

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60759:1983/AMD1:1991

Ultima versión

IEC 60759:1983/AMD1:1991

Alcance

Dichos sistemas constan de un conjunto detector de radiación semiconductor y una electrónica de procesamiento de señales interconectada a un analizador/computadora de altura de pulso. Esta norma no cubre los procedimientos de prueba para analizadores de altura de pulso y computadoras. Pub complementario

IEC 60759:1983 Historia

• 1991 IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1
• 1983 IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores