CSN ISO 3274:1994 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Instrumentos de contacto (stylus) de transformación de perfil consecutivo. Medidores de perfil de contacto, sistema M
Procesador: VELNOR, s.r.o., Brno, I?O: 44016174, Lubomír Vel?ovsk?, Ing. Eva Vele?íková Comité técnico de normalización: TNK 10 Metrología de las propiedades geométricas de las superficies Empleada del instituto checo de normalización: Ing. Miroslav Pospi?il
CSN ISO 3274:1994 Historia
0000 CSN EN ISO 3274:1999
1994CSN ISO 3274:1994 Instrumentos para la medición de rugosidad superficial por el método del perfil. Instrumentos de contacto (stylus) de transformación de perfil consecutivo. Medidores de perfil de contacto, sistema M