DIN EN 60749-23:2011-07
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Versión alemana EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Nota: DIN EN 60749-23 (2004-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta...
- Estándar No.
- DIN EN 60749-23:2011-07
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 60749-23:2011-07
DIN EN 60749-23:2011-07 Historia
- 2011 DIN EN 60749-23:2011-07 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Versión alemana EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Nota: DIN EN 60749-23 (2004-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta...
- 2011 DIN EN 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Versión alemana EN 60749-23:2004 + A1:2011
- 0000 DIN EN 60749-23/A1:2009
- 0000 DIN EN 60749-23:2004
