IEC 60747-7-3:1991 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos; parte 7: transistores bipolares; sección 3: especificación detallada en blanco para transistores bipolares para aparatos de conmutación
Define procedimientos de evaluación de calidad de tal manera que los componentes electrónicos sean aceptables en todos los demás países participantes sin necesidad de realizar más pruebas. Se refiere a IEC 747-10/QC 700000 e IEC 747-11/QC 750100.
IEC 60747-7-3:1991 Historia
1991IEC 60747-7-3:1991 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos; parte 7: transistores bipolares; sección 3: especificación detallada en blanco para transistores bipolares para aparatos de conmutación