IEEE 300-1969
Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)
Inicio
IEEE 300-1969
Estándar No.
IEEE 300-1969
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Estado
Remplazado por
IEEE 300-1982
Ultima versión
IEEE 300-1988
IEEE 300-1969 Historia
1988
IEEE 300-1988
Procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores
1982
IEEE 300-1982
PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DETECTORES DE PARTÍCULAS CARGADAS DE SEMICONDUCTOR
1970
IEEE 300-1969
Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)
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