DIN EN 60749-38:2008-10
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria (IEC 60749-38:2008); Versión alemana EN 60749-38:2008

Estándar No.

DIN EN 60749-38:2008-10

Fecha de publicación

2008

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN 60749-38:2008-10

DIN EN 60749-38:2008-10 Historia

• 2008 DIN EN 60749-38:2008-10 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria (IEC 60749-38:2008); Versión alemana EN 60749-38:2008
• 2008 DIN EN 60749-38:2008 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria (IEC 60749-38:2008); Versión alemana EN 60749-38:2008