1.1 Esta práctica cubre procedimientos para el uso de dosímetros de termoluminiscencia (TLD) utilizados como dosímetros de rutina para determinar la dosis absorbida en un material irradiado por radiación ionizante. Ejemplos de materiales útiles como TLD incluyen LiF, CaF2, CaSO4, Li2B4O7 y Al2O3. Aunque algunos elementos de los procedimientos tienen una aplicación más amplia, el área específica de preocupación es el procesamiento por radiación de materiales como productos sanguíneos, alimentos e insectos para programas de liberación estéril. Esta práctica es aplicable a la medición de la dosis absorbida en materiales irradiados por rayos gamma, rayos X y electrones. Las energías fuente cubiertas son fotones y electrones de 0,1 a 50 MeV. El rango de dosis absorbida cubierto es aproximadamente de 1 a 105 Gy (102 a 107 rad), y el rango de tasas de dosis absorbidas es aproximadamente de 10-2 a 1010 Gy/s (1 a 1012 rad/s). Esta práctica no cubre las mediciones de la dosis absorbida y la tasa de dosis absorbida en materiales sujetos a irradiación de neutrones. 1.2 Los procedimientos para el uso de TLD para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza de radiación de dispositivos electrónicos se dan en la Práctica E 668. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como el estándar. Los valores entre paréntesis son sólo para información. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E177 Práctica estándar para el uso de los términos precisión y sesgo en los métodos de prueba ASTM*, 1990-10-26 Actualizar
ASTM E456 Terminología estándar relacionada con la calidad y las estadísticas*, 1996-10-26 Actualizar
ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos*, 2020-07-01 Actualizar