NF X06-022:2000
Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 2: planes de muestreo indexados por calidad limitante (LQ) para la inspección de lotes aislados

Estándar No.

NF X06-022:2000

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF X06-022:2000

Alcance

Dominio de aplicación El presente documento especifica un sistema de canto de aceptación destinado a los controles por atributos indexados después de la calidad límite (QL).

NF X06-022:2000 Historia

• 1970 NF X06-022:2000 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 2: planes de muestreo indexados por calidad limitante (LQ) para la inspección de lotes aislados