DIN EN 62047-18 E:2011-06
Componentes semiconductores - componentes de la tecnología de microsistemas - Parte 18: Métodos de prueba de flexión para materiales de película delgada
- Estándar No.
- DIN EN 62047-18 E:2011-06
- Fecha de publicación
- 1970
- Organización
- /
- Estado
- 2014-04
- Remplazado por
- DIN EN 62047-18:2014
- Ultima versión
- DIN EN 62047-18:2014-04
DIN EN 62047-18 E:2011-06 Historia
- 2014 DIN EN 62047-18:2014-04 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada (IEC 62047-18:2013); Versión alemana EN 62047-18:2013
- 2014 DIN EN 62047-18:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada (IEC 62047-18:2013); Versión alemana EN 62047-18:2013
- 1970 DIN EN 62047-18 E:2011-06 Componentes semiconductores - componentes de la tecnología de microsistemas - Parte 18: Métodos de prueba de flexión para materiales de película delgada
