NF EN IEC 60749-26:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Estándar No.

NF EN IEC 60749-26:2018

Fecha de publicación

2018

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-26:2018

NF EN IEC 60749-26:2018 Historia

• 2018 NF EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).