Este documento especifica un método destructivo para la medición del espesor local de recubrimientos metálicos y otros recubrimientos inorgánicos mediante el examen de secciones transversales con un microscopio electrónico de barrido (SEM). El método es aplicable para espesores de hasta varios milímetros, pero para recubrimientos tan gruesos suele ser más práctico utilizar un microscopio óptico (ver ISO 1463). El límite inferior de espesor depende de la incertidumbre de medición lograda (ver Capítulo 10). NOTA El método también se puede utilizar para capas orgánicas cuando no están dañadas por la preparación de la sección transversal ni por el haz de electrones durante la toma de imágenes.
EN ISO 9220:2022 Historia
2022EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
1994EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)