T/CIE 070-2020
Evaluación de circuitos integrados industriales de alta confiabilidad Parte 4: Memorias no volátiles (Versión en inglés)
- Estándar No.
- T/CIE 070-2020
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2020
- Organización
- Group Standards of the People's Republic of China
- Ultima versión
- T/CIE 070-2020
- Alcance
- Este documento especifica los requisitos de prueba, los métodos de prueba y las reglas de inspección para los chips de memoria flash (en lo sucesivo, chips) en memorias no volátiles de alta confiabilidad de grado industrial. Por el momento, no involucra ROM. Este documento es aplicable a las actividades de identificación, aceptación, evaluación y prueba de chips de memoria flash de alta confiabilidad de grado industrial y chips de memoria no volátil integrados.
T/CIE 070-2020 Historia
- 2020 T/CIE 070-2020 Evaluación de circuitos integrados industriales de alta confiabilidad Parte 4: Memorias no volátiles
