YS/T 1164-2016
Determinación del contenido de impurezas en productos de cuarzo de alta pureza para materiales de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (Versión en inglés)

Estándar No.

YS/T 1164-2016

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2016

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

YS/T 1164-2016

YS/T 1164-2016 Historia

• 2016 YS/T 1164-2016 Determinación del contenido de impurezas en productos de cuarzo de alta pureza para materiales de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente