DIN EN IEC 60749-10:2023-06
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 60749-10:2022); Versión alemana EN IEC 60749-10:2022 / Nota: Fecha de emisión 2023-05-19* Diseñado como reemplazo de DIN EN 60749-10 (200...