GB 15651.4-2017
Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos Láseres semiconductores (Versión en inglés)

Estándar No.
GB 15651.4-2017
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2017
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB 15651.4-2017

GB 15651.4-2017 Documento de referencia

  • IEC 60747-1 
  • IEC 62007-1 Enmienda 1 - Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica - Parte 1: Plantilla de especificación para clasificaciones y características esenciales*2022-09-22 Actualizar
  • IEC 62007-2 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
  • ISO 1 Especificaciones geométricas de productos (GPS): temperatura de referencia estándar para la especificación de propiedades geométricas y dimensionales.*2022-06-14 Actualizar
  • ISO 11146-1 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchos de rayos láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 1: Haces estigmáticos y astigmáticos simples.*2021-06-30 Actualizar
  • ISO 11146-2 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para anchuras de haz láser, ángulos de divergencia y relaciones de propagación del haz. Parte 2: Haces astigmáticos generales.*2021-07-02 Actualizar
  • ISO 11554 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para determinar la potencia, la energía y las características temporales del rayo láser.*2017-08-07 Actualizar
  • ISO 11670 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Estabilidad posicional del haz; Corrigendum técnico 1
  • ISO 12005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización.*2022-05-31 Actualizar
  • ISO 13694 Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para la distribución de la densidad de potencia (energía) del rayo láser.*2018-11-02 Actualizar
  • ISO 13695 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para las características espectrales de los láseres
  • ISO 17526 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres

GB 15651.4-2017 Historia

  • 2017 GB 15651.4-2017 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos Láseres semiconductores

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