XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011
Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen

Estándar No.

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

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XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Historia

• 2011 XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen