European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
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EN IEC 63202-1:2019
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IEC 63202-1:2019 describe procedimientos para medir la degradación inducida por la luz (LID) de células fotovoltaicas (PV) de silicio cristalino en luz solar simulada. La magnitud de LID en una célula fotovoltaica de silicio cristalino se determina comparando la potencia de salida máxima en la prueba estándar. Condiciones (STC) antes y después de la exposición a la luz solar simulada a una temperatura e irradiancia específicas. El propósito de este documento es proporcionar información estandarizada LID de células fotovoltaicas para ayudar a los fabricantes de módulos fotovoltaicos a minimizar la falta de coincidencia entre las células dentro del mismo módulo, de esta manera maximizar el rendimiento de energía.
EN IEC 63202-1:2019 Historia
2019EN IEC 63202-1:2019 Células fotovoltaicas - Parte 1: Medición de la degradación inducida por la luz de células fotovoltaicas de silicio cristalino