IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969
Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)

Estándar No.

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969

Fecha de publicación

1968

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE 300-1982

Ultima versión

IEEE 300-1988

Alcance

Los detectores de radiación semiconductores se han utilizado ampliamente en los últimos años para la detección y espectroscopia de alta resolución de radiación ionizante. Se han desarrollado detectores tanto de silicio como de germanio, encontrando el silicio su principal aplicación en la detección y análisis de partículas pesadas cargadas. Detectores de germanio con su número atómico relativamente alto (en comparación con el silicio)...

IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 Historia

• 1988 IEEE 300-1988 Procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores
• 1982 IEEE 300-1982 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DETECTORES DE PARTÍCULAS CARGADAS DE SEMICONDUCTOR
• 1968 IEEE No 300-1969*USAS N42.1-1969 Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)