EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
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EN 61788-17:2013
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IEC 61788-17:2013 describe las mediciones de la densidad de corriente crítica local (Jc) y su distribución en películas superconductoras de alta temperatura (HTS) de área grande mediante un método inductivo que utiliza voltajes de tercer armónico. La consideración más importante para mediciones precisas es determinar Jc a temperaturas de nitrógeno líquido mediante un criterio de campo eléctrico y obtener características de corriente-voltaje a partir de su dependencia de la frecuencia. Aunque es posible medir Jc en campos magnéticos de CC aplicados, el alcance de esta norma se limita a la medición sin campos magnéticos de CC. Esta técnica mide intrínsecamente la corriente crítica de la lámina que es el producto de Jc y el espesor de la película d. El rango y resolución de medida para Jcd de películas HTS son desde 200 A/m hasta 32 kA/m, con una resolución de medida de 100 A/m.
EN 61788-17:2013 Historia
2013EN 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie