UNE-EN 62374-1:2010
Dispositivos semiconductores -- Parte 1: Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
- Estándar No.
- UNE-EN 62374-1:2010
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- ES-UNE
- Ultima versión
- UNE-EN 62374-1:2010
UNE-EN 62374-1:2010 Historia
- 2011 UNE-EN 62374-1:2010 Dispositivos semiconductores -- Parte 1: Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
