Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Ultima versión
IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008
Alcance
Se tratan los métodos recomendados y las prácticas de informes estandarizadas para la caracterización eléctrica de transistores impresos y orgánicos. Debido a la naturaleza de la electrónica impresa y orgánica, se pueden introducir errores de medición significativos si el diseño del experimento de caracterización eléctrica no se aborda adecuadamente. Esta norma describe las fuentes más comunes de errores de medición, particularmente...