ISO 19668:2017
Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
- Estándar No.
- ISO 19668:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO 19668:2017
- Alcance
- Este documento especifica un procedimiento mediante el cual los límites de detección elemental en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) pueden estimarse e informarse a partir de datos de una muestra particular en situaciones analíticas comunes. Este documento es aplicable a materiales homogéneos y no es aplicable si la distribución en profundidad de los elementos no es homogénea dentro de la profundidad de información de la técnica.
ISO 19668:2017 Documento de referencia
- ISO 18115-1 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.*， 2023-06-01 Actualizar
- ISO 18115-2 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.*， 2021-12-21 Actualizar
ISO 19668:2017 Historia
- 2017 ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
