UNE-EN 62047-13:2012
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 13: Métodos de ensayo de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva de estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
- Estándar No.
- UNE-EN 62047-13:2012
- Fecha de publicación
- 2012
- Organización
- ES-UNE
- Ultima versión
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UNE-EN 62047-13:2012 Historia
- 2012 UNE-EN 62047-13:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 13: Métodos de ensayo de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva de estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
