UNE-EN IEC 60749-37:2022
Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de placa mediante acelerómetro (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

Estándar No.

UNE-EN IEC 60749-37:2022

Fecha de publicación

2023

Organización

ES-UNE

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UNE-EN IEC 60749-37:2022 Historia

• 2023 UNE-EN IEC 60749-37:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de placa mediante acelerómetro (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)