IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.
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IEEE 1149.6-2015
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¿Este estándar define extensiones a IEEE Std 1149.1? estandarizar las estructuras y métodos de escaneo de límites necesarios para ayudar a garantizar pruebas de escaneo de límites simples@, robustas@ y mínimamente intrusivas de redes digitales avanzadas.1 Estas redes no están adecuadamente abordadas por los estándares existentes@, especialmente para aquellas redes que están acopladas@ diferencial@ o ambos. Las pruebas habilitadas por este estándar funcionarán en paralelo con las pruebas IEEE Std 1149.1 de redes digitales convencionales y en conjunto con IEEE Std 1149.4? Pruebas de redes analógicas convencionales. Este estándar también especifica el software y las extensiones del lenguaje de descripción de escaneo de límites (BSDL) para IEEE Std 1149.1@ que se requieren para admitir nuevas estructuras de prueba de E/S. Propósito Los estándares de prueba de escaneo de límites existentes (IEEE Std 1149.1@ IEEE Std 1149.4) no abordan completamente algunas de las topologías de redes digitales cada vez más comunes@, como las interconexiones diferenciales acopladas con CA@ a muy alta velocidad (1+ Gb/s). rutas de datos digitales. Las estructuras y métodos de IEEE Std 1149.1 están destinados a probar redes estáticas (acopladas a CC) @ de un solo extremo. No pueden probar redes digitales dinámicas (acopladas en CA) @ ya que el acoplamiento de CA bloquea las señales estáticas. Las redes diferenciales tampoco son probadas inadecuadamente por IEEE Std 1149.1@, que requiere la inserción de celdas límite entre el controlador o receptor diferencial y las almohadillas del chip (esto a menudo crea una degradación inaceptable del rendimiento)@ o la inserción de celdas límite únicas antes del controlador diferencial y después del receptor diferencial (esto reduce la controlabilidad y la observabilidad hasta el punto de que muchos defectos en el ensamblaje de la placa no se pueden detectar). Las estructuras y métodos de IEEE Std 1149.4 están destinados a probar redes analógicas y, en la mayoría de los casos, no pueden probar también estas redes digitales más nuevas. Específicamente @ IEEE Std 1149.4 brinda la oportunidad de inyectar señales dinámicas (variables en el tiempo) o analógicas para pruebas @ pero estas estructuras destinadas a pruebas analógicas a menudo son demasiado intrusivas (un impacto demasiado alto en el rendimiento y el número de pines) para diseños de chips de alta velocidad @ y requieren recursos adicionales y tiempo de aplicación de prueba que de otro modo no se requerirían para probar circuitos digitales. Finalmente, la lógica de muy alta velocidad impone nuevas restricciones a las estructuras de prueba que no se consideraron en IEEE Std 1149.1. 1 La información de referencias se puede encontrar en la Cláusula 2.
IEEE 1149.6-2015 Historia
2015IEEE 1149.6-2015 Pruebas de escaneo de límites de redes digitales avanzadas (IEEE Computer Society)
2003IEEE 1149.6-2003 Estándar para pruebas de escaneo de límites de redes digitales avanzadas Documento de IEEE Computer Society