1.1 Este método de prueba cubre el análisis de distribución de tamaño de la contaminación por partículas, de 5 µm o más de tamaño, ya sea sobre o lavadas de la superficie de pequeños componentes de dispositivos electrónicos. Se debe esperar una variación máxima de dos a uno (633 % del promedio de dos corridas) para recuentos repetidos en la misma muestra. 1.2 Unidades: los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.4 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.
ASTM F24-20 Historia
2020ASTM F24-20 Método de prueba estándar para medir y contar la contaminación por partículas en superficies
2015ASTM F24-09(2015) Método de prueba estándar para medir y contar la contaminación por partículas en superficies
2009ASTM F24-09 Método estándar para medir y contar la contaminación por partículas en superficies
2004ASTM F24-04 Método estándar para medir y contar la contaminación por partículas en superficies
2000ASTM F24-00 Método estándar para medir y contar la contaminación por partículas en superficies