IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.
- Estándar No.
- IEC 60749-41:2020
- Fecha de publicación
- 2020
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60749-41:2020
IEC 60749-41:2020 Historia
- 2020 IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.
