EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.

Estándar No.

EN IEC 60749-41:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN IEC 60749-41:2020

Alcance

IEC 60749-41:2020 especifica los requisitos de procedimiento para realizar pruebas válidas de resistencia, retención y temperatura cruzada basadas en una especificación de calificación. Las especificaciones de calificación de resistencia y retención (para recuentos de ciclos, duraciones, temperaturas y tamaños de muestra) se especifican en JESD47 o se desarrollan utilizando métodos basados en el conocimiento como en JESD94.

EN IEC 60749-41:2020 Historia

• 2020 EN IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.