GJB 3233-1998
Procedimientos y métodos de análisis de fallas de circuitos integrados de semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

GJB 3233-1998

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1998

Organización

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Ultima versión

GJB 3233-1998

GJB 3233-1998 Historia

• 1998 GJB 3233-1998 Procedimientos y métodos de análisis de fallas de circuitos integrados de semiconductores.