EN 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
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EN 61788-15:2011
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Esta parte de IEC 61788 describe las mediciones de la impedancia superficial intrínseca (ZS) de películas HTS en frecuencias de microondas mediante un método de resonador dieléctrico modificado de modo de dos resonancias. El objetivo de la medición es obtener la dependencia de la temperatura del ZS intrínseco a la frecuencia de resonancia f0. El rango de frecuencia y espesor y la resolución de medición para el ZS intrínseco de las películas HTS son los siguientes: ? frecuencia: hasta 40 GHz; ? espesor de la película: mayor que 50 nm; ? resolución de medición: 0@01 m?? a 10 GHz. Se comunicarán los datos intrínsecos ZS a la frecuencia medida@ y escalada a 10 GHz@ suponiendo la regla f2 para la resistencia superficial intrínseca RS (f < 40 GHz) y la regla f para la reactancia superficial intrínseca XS para comparación@.
EN 61788-15:2011 Historia
2011EN 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas