DIN 50447:1995
Ensayo de materiales para la tecnología de semiconductores: determinación sin contacto de la resistencia eléctrica de las capas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas

Estándar No.

DIN 50447:1995

Fecha de publicación

1995

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50447:1995

DIN 50447:1995 Historia

• 1995 DIN 50447:1995 Ensayo de materiales para la tecnología de semiconductores: determinación sin contacto de la resistencia eléctrica de las capas de semiconductores mediante el método de corrientes parásitas