EN IEC 60068-2-82:2019
Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Xw1: Métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos

Estándar No.
EN IEC 60068-2-82:2019
Fecha de publicación
2019
Organización
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Ultima versión
EN IEC 60068-2-82:2019
Alcance
IEC 60068-2-82:2019 especifica pruebas para la propensión al whisking de acabados superficiales de componentes eléctricos o electrónicos y piezas mecánicas como piezas perforadas/estampadas (por ejemplo, puentes, escudos de protección contra descargas electrostáticas, fijaciones mecánicas, pasadores de ajuste a presión y otras piezas mecánicas utilizadas en conjuntos electrónicos) que representan la etapa terminada, con acabado de estaño o aleación de estaño. Los cambios de las dimensiones físicas de los compuestos del molde, plásticos y similares durante el flujo de prueba requerido no se consideran ni evalúan. Los métodos de prueba se han desarrollado utilizando un enfoque basado en el conocimiento. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos con respecto a la edición anterior:  ——ampliación del alcance de la norma de prueba de componentes electrónicos a componentes electromecánicos y pasadores de ajuste a presión, que se utilizan para la tecnología de ensamblaje e interconexión;  ——reducción significativa del esfuerzo de prueba mediante una selección de condiciones de prueba basada en el conocimiento, es decir, se pueden omitir pruebas que no sean relevantes para un sistema de materiales determinado (ver Anexo D);  ——armonización con JESD 201A mediante la omisión de las severidades M, N para las pruebas de ciclos de temperatura;  ——duración de la prueba muy reducida (1 000 h en lugar de 4 000 h) para la prueba de calor húmedo introduciendo condiciones de prueba con una humedad elevada del 85 % de HR y una temperatura de 85 °C que proporciona una mayor severidad.

EN IEC 60068-2-82:2019 Historia

  • 2019 EN IEC 60068-2-82:2019 Pruebas ambientales - Parte 2-82: Pruebas - Prueba Xw1: Métodos de prueba de bigotes para componentes y piezas utilizadas en conjuntos electrónicos



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