UNE-EN 60749-16:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

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Fecha de publicación

2003

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AENOR

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UNE-EN 60749-16:2003 Historia

• 2003 UNE-EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)