UNE-EN 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST imparcial.
2005UNE-EN 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST imparcial.