IEC 63229:2021
Dispositivos semiconductores: clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio

Estándar No.

IEC 63229:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 63229:2021

IEC 63229:2021 Historia

• 2021 IEC 63229:2021 Dispositivos semiconductores: clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio