NF EN 62047-18:2014
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: métodos de prueba de flexión para materiales de película delgada.

Estándar No.

NF EN 62047-18:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62047-18:2014

NF EN 62047-18:2014 Historia

• 2014 NF EN 62047-18:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: métodos de prueba de flexión para materiales de película delgada.