PD IEC/TS 62132-9:2014
Circuitos integrados. Medida de inmunidad electromagnética. Medición de la inmunidad irradiada. Método de escaneo de superficie

Estándar No.

PD IEC/TS 62132-9:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

PD IEC/TS 62132-9:2014

PD IEC/TS 62132-9:2014 Historia

• 2014 PD IEC/TS 62132-9:2014 Circuitos integrados. Medida de inmunidad electromagnética. Medición de la inmunidad irradiada. Método de escaneo de superficie