IEEE/IEC 63003-2015
Estándar internacional IEC/IEEE para la configuración de mapa de pines de interfaz de prueba común para requisitos de prueba de electrónica de un solo nivel y alta densidad que utiliza IEEE Std 1505(TM)

Estándar No.

IEEE/IEC 63003-2015

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE/IEC 63003-2015

IEEE/IEC 63003-2015 Historia

• 1970 IEEE/IEC 63003-2015 Estándar internacional IEC/IEEE para la configuración de mapa de pines de interfaz de prueba común para requisitos de prueba de electrónica de un solo nivel y alta densidad que utiliza IEEE Std 1505(TM)