DB50/T 508-2013
Método de detección in situ de dispositivo de medición de alto voltaje de alimentación de CA de 35 kV y menos (Versión en inglés)

Estándar No.

DB50/T 508-2013

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2013

Organización

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

DB50/T 508-2013

Alcance

Esta norma especifica los términos y definiciones, elementos de prueba, requisitos técnicos, condiciones de prueba, métodos de prueba, procesamiento de resultados de pruebas y ciclos de prueba de dispositivos de medición de alto voltaje para energía CA de 35 kV y menos. Esta norma es aplicable a la inspección in situ antes y durante la operación de dispositivos de medición de alto voltaje para energía CA de 35 kV y menos con una frecuencia nominal de 50 Hz.

DB50/T 508-2013 Historia

• 2013 DB50/T 508-2013 Método de detección in situ de dispositivo de medición de alto voltaje de alimentación de CA de 35 kV y menos