NF EN 60749-19/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: resistencia al corte de virutas.

Estándar No.

NF EN 60749-19/A1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-19/A1:2011

NF EN 60749-19/A1:2011 Historia

• 2011 NF EN 60749-19/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: resistencia al corte de virutas.